Misuratore di spessori Fischerscope

Misuratore di spessori di riporto Fischerscope X-Ray XDVM-W Tipo: XDVM-T7-W Modello System X-RAY Macchina a norme CE Anno di costruzione 2004 Il FISCHERSCOPE® X-RAY XDVM®-W può misurare lo spessore del rivestimento e la composizione della lega di qualsiasi sistema di rivestimento metallico, compresi rivestimenti in lega singola, binaria e ternaria, doppi rivestimenti con o senza uno strato di lega e tripli rivestimenti.