Diffrattometro a raggi X easy-to-use da banco

Diffrattometro a raggi X easy-to-use e aggiornabile, per rapide analisi in un ambiente per più utilizzatori. Il sistema è configurato con geometria Bragg-Brentano con raggio di 145 mm. La combinazione unica del generatore ad alto voltaggio a 300 W operante a 40 kV/7,5 mA, il tubo a raggi X Empyrean Cu LFF e il detector PIXcel1D rendono il sistema veloce e preciso. Il display touch e il caricamento esterno dei campioni rendono il sistema estremamente facile da utilizzare. Sono inclusi beta-filtri Ni; sample spinner per porta campioni da 51,5 mm; soller slits 0.04 rad; fixed slits optics e un set di porta campioni a 3 polveri. Il difrattometro è presente presso la sede Greenbone di Roncadelle. Lo strumento è in ottimo stato ed è stato soggetto ad attività di manutenzione e calibrazione in accordo alle indicazioni del fornitore. Lo strumento è stato installato nel mese di Agosto del 2021 ed è stato utilizzato da personale qualificato con cadenza bi-settimanale per 2 anni. In aggiunta Software: HIGHSCORE LTU WIN. Tratta i dati e identifica le fasi XRD su vari sistemi. Permette l’installazione del software su un device aggiuntivo. Input e output dati è tramite files (tutti i PANanlytical e molti formati dei concorrenti). Questo prodotto richiede un database di riferimento per identificazione delle fasi; opzioni sono ICDD PDF2 o PDF4+/Minerals/Organics o il COD gratuito. Include le seguenti caratteristiche: algoritmo search-match, usa picchi e dati di profilo; quantificazione automatica del residuo; funzioni avanzate di reporting; grafici per esaminare, mostrare ed editare diffrattogrammi; supportare ogni numero di database di riferimento definiti dall’utilizzatore; include caratteristiche di batch per l’autofunzionamento di una sequenza; pronto per automazione – può essere lanciato da un command prompt; analisi di somiglianza delle scansioni (cluster analysis fino a 50 scans); referenced intensity ratio (RIR) per stima delle quantità di tutte le fasi identificate; percentuale di cristallinità; fitting del profilo molto veloce; analisi della linea del profilo, analisi di microstruttura da fit del profilo; PLS partial least squares per determinare/quantificare una proprietà direttamente da raw data. HighScore(Plus) è progettato per sistemi operativi Windows 8.1 e 10 Professional (64-bit). Il software può funzionare con altri sistemi operativi Windows ma non è ufficialmente supportato. Software: HighScore Plus. L’opzione plus integra tutte le funzionalità HighScore con cristallografia, fit di struttura (Rietveld, HKL-file quantitativo, estrazioni Pawley e LeBail) e analisi di microstruttura su dati da vari sistemi. La maggior parte dei tasks possono essere automatizzati da lotti dell’utilizzatore. Un’analisi Rietveld richiede dati di struttura dei cristalli tramite files CIF o un database di struttura dei cristalli; opzioni sono ICDD PDF4+ o PDF4/Minerals o il COD gratuito. Ulteriori caratteristiche del Plus includono: analisi di somiglianza delle scansioni (cluster analysis illimitata nel numero di scansioni); preparazione di analisi Rietveld automatiche usando RoboRiet; indicizzazione delle unit cell; unit cell refinement; space group testing e trasformazione di unit cell; revisione di struttura, distanze e calcolo degli angoli; soluzioni di struttura tramite charge-flipping (algoritmo Superflip); analisi delle linee di profilo, analisi delle microstrutture per profilp e structure fits; mixed fits dalla struttura, HKL e dati profilo; scripting esteso in standard Pascal e costruzione di interfaccia grafico custom. HighScore (Plus) è progettato per sistemi operativi Windows 8.1 e 10 Professional (64-bit). Il software può funzionare con altri sistemi operativi Windows ma non è ufficialmente supportato. Prezzo d'acquisto 84.000